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  Schl√ľssel zi861 
  Verfasser Zaeh, Philipp (Verf.) 
  Titel Das Spannungsfeld von Pr√ľfungsrisiko u. Wesentlichkeit 
  Untertitel Unter W√ľrdigung des BAYESSCHEN Theorems  
  Verlag Erich Schmidt Verlag 
  Erscheinungsort Berlin 
  Erscheinungsjahr 2001 
  Fundort ZIR
  Schlagworte Berechnung der kritischen Annahmegrenze,
Berechnung des Audit Gauge,
Berechnung des Stichprobenumfangs im homograden Fall,
Erhörung des a-Fehlers,
Optimierung des Pr√ľfungsaufwandes,
Spannungsfeld von Pr√ľfungsrisiko u. Wesentlichkeit,
Wesentliche Fehler auf der Gesamtebene des Jahresabschl